Комплексный метод контроля качества конструкции и эксплуатационной надежности термоэлектрических модулей в составе оптоэлектронных приборов Л.Б. Ершова, Г.Г. Громов, И.А. Драбкин v2

В соответствии с международными и национальными стандартами к термоэлектрическим (ТЭ) модулям, применяющимся в оптоэлектронных приборах, предъявляются высокие требования по качеству и надежности. Ранее был предложен комплексный метод контроля качества ТЭ охладителя по результатам измерений R, Z и константы времени модуля (t). В развитие этого подхода в данной работе предлагается использовать данный комплексный метод измерения (R,Z, t) для оценки качества конструкций с применением ТЭ модулей, а также для контроля надежности и определения отказов ТЭ модулей в процессе эксплуатации в составе оптоэлектронных приборов. Приведены теоретические основы данного подхода и экспериментальные результаты. Измерения проводились с помощью Z, R,t-метров серии DX4065 и DX4165 производства ЗАО «РМТ».